GL16光(guang)(guang)纖端面(mian)幾何形狀(zhuang)測(ce)(ce)量(liang)儀器使用(yong)非常(chang)簡(jian)單(dan)，能(neng)夠測(ce)(ce)量(liang)單(dan)芯和多芯接頭(tou)的端面(mian)幾何形狀(zhuang)，并對(dui)其成像。它采(cai)用(yong)非接觸式(shi)白光(guang)(guang)掃描干涉技(ji)術(SWLI)，能(neng)夠提供(gong)高準確度(du)、高重復性和高可(ke)靠性的光(guang)(guang)纖接頭(tou)測(ce)(ce)試(shi)，尤(you)其適合根據IEC或Telcordia標準進行(xing)的合格/不(bu)合格測(ce)(ce)試(shi)。系統既可(ke)以通(tong)過觸摸屏進行(xing)本地控制，又可(ke)以通(tong)過基于瀏覽器的應用(yong)程序實施遠程操作，易于集成到(dao)生產車間(jian)。

所有系(xi)統組件完全集成(cheng)在(zai)封閉的(de)(de)外殼(ke)中。寬帶寬570 nm LED光(guang)源(yuan)配合邁克(ke)爾(er)遜(xun)干涉(she)物鏡(jing)使(shi)用(yong)(yong)，測量間隔高度(du)變(bian)化高達(da)35 μm的(de)(de)相移。壓電位移臺相對于接(jie)(jie)頭(tou)移動(dong)干涉(she)物鏡(jing)，并使(shi)用(yong)(yong)高分(fen)辨(bian)率(lv)相機收集所產生的(de)(de)干涉(she)圖案。然后生成(cheng)接(jie)(jie)頭(tou)表(biao)面的(de)(de)3D高度(du)圖，并利(li)用(yong)(yong)2.2 µm的(de)(de)橫(heng)向分(fen)辨(bian)率(lv)和1.1 nm的(de)(de)高度(du)分(fen)辨(bian)率(lv)計算光(guang)纖幾何形(xing)狀參數(shu)。白光(guang)干涉(she)法還(huan)能夠表(biao)征凹陷或突出的(de)(de)光(guang)纖，而這一點(dian)在(zai)使(shi)用(yong)(yong)單色(se)干涉(she)儀時(shi)可能會被忽略(lve)。

附(fu)帶的(de)(de)GL16M4 MT型(xing)(xing)安裝夾具(ju)有助于實現(xian)一次8秒測量(liang)12芯每行的(de)(de)插芯中max.72根光纖。換出附(fu)帶的(de)(de)夾具(ju)，GL16還(huan)可測量(liang)其(qi)他光纖類型(xing)(xing)和接頭類型(xing)(xing)。請根據待(dai)測接頭類型(xing)(xing)和光纖數量(liang)在下方選擇合(he)適(shi)的(de)(de)安裝組件。

• 3D干涉儀，用于測量端面幾何形狀
• 非接觸式閉環壓電白光掃描干涉技術(SWLI)
• 完全符合IEC和Telcordia等行業規范
• 兼容所有主要的接頭類型(請看下表)
• NIST可追蹤標準，用于放大倍率和偏轉位移臺的校準
• 集成的觸摸屏上提供完整的掃描信息，測量時間≤8 s(典型值)
• 基于瀏覽器的應用程序，支持遠程訪問操作
• 導出為.CSV格式的數據，SQL數據庫或掃描報告