Talint EDU是X射線(xian)Talbot Lau干(gan)涉(she)儀的一(yi)種巧妙(miao)簡化形式，包括(kuo)所有(you)必(bi)要的硬件，以正確設置和(he)(he)微調干(gan)涉(she)儀，并應用相(xiang)位(wei)(wei)步進(jin)程序，以獲得(de)三種成像(xiang)模式：吸收、相(xiang)位(wei)(wei)對比(bi)度和(he)(he)暗場對比(bi)度。

硬件的(de)設計使(shi)得，在(zai)(zai)按照我們的(de)說明組裝（預裝）套件后，莫(mo)爾條(tiao)紋將很容易(yi)在(zai)(zai)您的(de)探測器上看到。莫(mo)爾條(tiao)紋圖案的(de)進(jin)一(yi)步微(wei)調(diao)可以(yi)通過使(shi)用G1和G2支架中的(de)微(wei)米螺(luo)釘使(shi)光柵繞(rao)光軸進(jin)行(xing)角(jiao)旋轉，以(yi)直接的(de)方式進(jin)行(xing)。

• 由基板定義，基板是M6的試驗板，間距為25mm
• 光柵是使用X射線LIGA技術制造的，該技術確保了高精度和高的高寬比（縱橫比）
• 通過定位銷固定；對稱設置
• 兩個光柵都可以通過調節測微螺釘繞光軸旋轉
• 包含控制器

產地：德國

長度：60厘米

寬度：15厘米

高度：20厘米

光柵開放區域

G0：15毫米

G1：70毫米

G2：70毫米

干(gan)涉儀的微調：僅調整G1和G2繞光軸的旋(xuan)轉角度(du)

樣品放置：簡單(dan)的(de)旋轉臺，可在光軸內外擺(bai)動樣品

相位步進：閉(bi)環壓電(dian)級(ji)。30nm分辨率

邊緣(yuan)能見度：通常>15%

G0和G2的占空比：0.55

G0和G2的基板：400µm石墨(mo)

G1占空比：0.5

G1基板(ban)：200µm硅