AURIGA Laser 與電子顯微鏡組(zu)合(he)可(ke)以實現高速且精(jing)細的材(cai)料(liao)刻蝕(shi)。使用脈沖(chong)激光束在最(zui)短時間內刻蝕(shi)樣品材(cai)料(liao)。借助聚焦(jiao)離(li)子束精(jing)準地對感興趣的樣品區域進行重新加工。在同(tong)一系統內充分發揮(hui) FIB-SEM 的成像品質。

您(nin)能夠在同一系(xi)統中創建高分辨納米級(ji)圖像，使用 X 射線分析(xi)功能檢測(ce)樣(yang)品。同時(shi)還能夠在最短時(shi)間內處(chu)理(li)非導電材(cai)料(liao)樣(yang)品及其復雜的幾(ji)何結構。只需(xu)一步(bu)操作(zuo)便能獲得所有需(xu)要的信息。