MProbe Vis-Thin 薄膜測量系(xi)(xi)統是一(yi)(yi)款結構緊湊、功能多(duo)樣的(de)(de)(de)臺式系(xi)(xi)統。它(ta)(ta)可(ke)以測量不同基底上 10nm - 150µm 厚度范圍內的(de)(de)(de)半透(tou)明薄膜。而且,它(ta)(ta)經濟實惠(hui),使(shi)用(yong)方便(bian)。MProbe Vis(X) 的(de)(de)(de)生產版本可(ke)承受振動,并(bing)可(ke)通過局(ju)域網連接(jie)24小時(shi)運(yun)行。它(ta)(ta)可(ke)用(yong)于在(zai)線和 OEM 應用(yong)。它(ta)(ta)與(yu)無塵室環境(jing)兼容。MProbe20 VisX 系(xi)(xi)統是 MProbe20 Vis 系(xi)(xi)統的(de)(de)(de)一(yi)(yi)個版本,在(zai)更(geng)長(chang)波長(chang)(> 700 nm)下的(de)(de)(de)靈(ling)敏度有所(suo)提高(gao)。
靈活性高
500 多種擴展材料數據庫
可以(yi)處理復雜的應(ying)用,沒有層數(shu)限制,支持(chi)背面(mian)反(fan)射率、表面(mian)粗(cu)糙度(du)、暗淡(dan)度(du)等(deng)。
集成(cheng):輕(qing)松集成(cheng) TCP 服務器
經濟實惠,性價比高
MProbe20 |
波長范圍 |
厚度測量范圍 |
VIS |
400m-1000nm |
10nm–150μm |
UVVIS |
200m-1100nm |
1nm-75μm |
VIS-HR |
700m-1100nm |
1um-400um |
NIR |
900m-1700nm |
50nm–150μm |
VisNIR |
380m-1700nm |
50nm-250μm |
UVVisF |
200m-1000nm |
1nm-20μm |
UVVISNIR |
200m-1700nm |
1nm-75μm |
NIRHR |
1500m-1550nm |
10μm-1800μm (glass) 4μm-400μm (Si) |
主機(包括(kuo)光譜儀、光源(yuan))
SH200A 樣品臺,帶聚焦鏡頭和微調裝置(zhi)
光纖反射探頭
TFCompanion -RA 軟件(jian)、USB許可(ke)證密鑰、包(bao)含軟件(jian)發布、用戶指南和(he)其他材料的(de) USB 記憶棒
USB / LAN 電(dian)纜
24VDC 電(dian)源適配器(110/220V)
產地:美國
厚(hou)度范圍: 10 nm - 150 μm
波(bo)長范圍: 400nm -1000nm(典型(xing)校準范圍:380-1050nm),VisX 為 450nm -1050nm
波長分辨率: < 小于 1 nm,狹(xia)縫為(wei) 20 微米(mi)(整個(ge)光譜(pu)均勻一致)
連接: USB / 1 GbE LAN
數據(ju)采集(ji)速率:1.5kHz(Max)
測量時間:10秒(Min)
精度:<0.01nm 或 0.02%(在 200nm 氧化(hua)物上進行(xing) 100 次測量的(de) s.d.)。
準確度:<1nm 或 0.2%(取決于薄(bo)膜(mo)疊層)
穩定(ding)性:< 0.02nm 或 0.2%(每天測量 20 天)
光斑尺寸:< 1 mm
樣品尺寸:>= 10 mm
光源:5W TH 燈,10000 小時壽命(ming)(可選:20W TH 燈,2000 小時壽命(ming))
可(ke)快(kuai)速可(ke)靠地測量大多數半透明或輕吸收(shou)薄膜: 氧化物(wu)(wu)、氮化物(wu)(wu)、光刻膠、聚(ju)合物(wu)(wu)、半導體(硅、砷化鎵、aSi、聚(ju)硅等)、硬(ying)涂(tu)層(ceng)(SiC、DLC、AlN)、聚(ju)合物(wu)(wu)涂(tu)層(ceng)(Paralene、PMMA、聚(ju)酰胺)、ITO、電池間隙(xi)、氧化鋁、薄金屬(shu)膜(<50 納米(mi))等。