MProbe 20是一種用于(yu)(yu)全球(qiu)數千個應(ying)用的薄(bo)膜(mo)厚(hou)度(du)測(ce)量臺(tai)式系統。它只需單擊鼠(shu)標即可測(ce)量薄(bo)膜(mo)厚(hou)度(du)和(he)折(zhe)射率(lv)。可以(yi)快(kuai)速(su)可靠地(di)測(ce)量1nm至1mm的厚(hou)度(du)，包括多(duo)層膜(mo)堆疊。不同的MProbe 20模(mo)型主要通過光(guang)譜儀的波長范圍(wei)和(he)分辨率(lv)來(lai)區分，這反(fan)過來(lai)決定了可以(yi)測(ce)量的材料的厚(hou)度(du)范圍(wei)和(he)類型。該測(ce)量技(ji)術基于(yu)(yu)光(guang)譜反(fan)射——快(kuai)速(su)、可靠且無損。

• 靈活：模塊化薄膜厚度測量系統：為您的應用選擇更好配置，并在需要時輕松升級
• 精度：<0.01nm或0.01%
• 材料：500+擴展材料數據庫
• 軟件：用戶友好且功能豐富的TFCompanion軟件甚至可以處理復雜的應用程序。層數無限制，支持背面反射率、表面粗糙度、暗度等。
• 集成：輕松集成TCP服務器
• 實時、一鍵測量和分析
• 測量歷史：調用/顯示測量結果和統計數據

產地：美國

精度：＜0.01nm或0.01%（在200nm氧化物上進行100次測量的s.d.）

<1nm或0.2%（依賴于(yu)膠(jiao)片堆(dui)棧）

穩(wen)定性：＜0.02nm或0.2%（20天，每天測量）

測量(liang)厚度：1nm至1mm

光(guang)斑尺寸：<1mm

樣品(pin)尺寸：>=10mm

主機：包括光(guang)(guang)(guang)譜儀、光(guang)(guang)(guang)源、光(guang)(guang)(guang)控制(zhi)器微處理器

樣品臺：SH200A

探頭：光纖反射

測試(shi)樣品(pin)：200nm氧化硅或PET薄膜

電纜：USB或LAN

電源(yuan)適配器：24VDC

電壓(ya)：110/220V